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光配向 PI 膜厚对 TFT-LCD 残影影响机理研究-河南科技2026年12期

光配向 PI 膜厚对 TFT-LCD 残影影响机理研究

作者: 熊德竹 袁志华 瞿 高 罗 璇 字体:      

中图分类号:TN141.3

文献标志码:A

文章编号:1003-5168(2026)12-0077-04

DOI:10.19968/j.cnki.hnkj.1003-5168.2026.12.017

0 引言

残影是TFT-LCD核心画质缺陷 [1] ,表现为画面切换后残留前序静态影像。该问题根源在(试读)...

河南科技

2026年第12期