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基于GUM-MCM的微纳米坐标测量机圆度测量不确定度评定-光学精密工程2026年05期

基于GUM-MCM的微纳米坐标测量机圆度测量不确定度评定

作者:楼伟民 陈欢 谢嵩 杨鹏 居冰峰 陈远流 叶怀储 马丙辉 字体:      

中图分类号:TH161.11 文献标识码:Adoi:10.37188/OPE.20263405.0769 CSTR:32169.14.OPE.20263405.0769

1引言

随着微纳米级超精密加工技术的快速发展,先进制造对微观尺度下几何参量的精确计量提出了更为苛刻的要求(试读)...

光学精密工程

2026年第05期