• 简体   /   繁体
基于改进的 RT-DETR 小目标 PCB 缺陷检测-现代电子技术2026年13期

基于改进的 RT-DETR 小目标 PCB 缺陷检测

作者:张宗旋 1,2 ,孙旋 1,2,3 字体:      

DOI:10.16652/j.issn.1004-373X.2026.13.018

引用格式: 张宗旋, 孙旋. 基于改进的 RT-DETR 小目标 PCB 缺陷检测[J]. 现代电子技术, 2026, 49(13): 119-127.

摘 要: 针对印刷电路板(PCB)缺陷检测中普遍存在(试读)...

现代电子技术

2026年第13期